多通道半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)從模塊化架構(gòu)到動(dòng)態(tài)溫控的配置與優(yōu)化
135半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)器件可靠性的要求日益嚴(yán)格,老化測(cè)試作為驗(yàn)證芯片長(zhǎng)期穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其測(cè)試系統(tǒng)的配置與效率直接影響產(chǎn)品質(zhì)量與研發(fā)周期。多通道半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)并行處理多個(gè)測(cè)試任務(wù),能夠大幅提升測(cè)試...
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